调整聚焦的高度测量-德国西克SICK传感器
生产半导体或显示屏的过程中，高精度检查和激光系统需要高度精确的聚焦光学系统。短程距离传感器 OD5000 可以测量每秒至 80,000次基座的微米精度高度轮廓。这些数据可以控制聚焦位置，从而得出最佳处理结果。
以下产品可以使用
OD5000-C15T01
OD5000-C15W01
OD5000-C30T05
OD5000-C30W05
OD5000-C85T20
OD5000-C85W20
OD5000-C150T40
OD5000-C150W40
OD5000-C30T05S01
OD5000-C85T20S01
OD5000-C1 50T40S01
OD5000-C1 50T40S02
